ブルカージャパン、10/31に東京で「ナノプローブ表面特性評価技術セミナー」を開催

2019年10月02日(水曜日)

 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は10月31日、東京都中央区の貸会議室スペース まる八(http://space-maruhachi.com/contact/)で、「ライフサイエンス / ソフトマテリアル ナノプローブ表面特性評価技術セミナー」を開催する。参加費用は無料で、定員は40名。

バイオAFM JPK NanoWizard4 XP

 

 今回は、金沢大学ナノ生命科学研究所 所長 福間 剛士 教授による招待講演を設けている。

 問い合わせ先は以下のとおり。
・ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 電話:03-3523-6361
 Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
・WEB登録サイト https://mbns.bruker.com/acton/media/9063/jpk3

 プログラムは以下のとおり。

・13:10~13:20 開会挨拶

・13:20~14:20 【招待講演】「液中原子間力顕微鏡による生きた細胞の表面および内部のナノ構造計測」金沢大学ナノ生命科学研究所 所長 福間 剛士 教授

・14:40~15:30 「バイオAFM JPK NanoWizard Ultraspeed 2 と新製品NanoWizard4 XPのご紹介」(仮)ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 塚本 和己 氏

・15:30~16:10 「分解能10 nmの赤外分光技術 < AFM-IR >によるバイオ・高分子イメージングの新展開」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 横川 雅俊 氏

・16:10~17:00 「ナノインデンテーション技術 (ナノスケール機械的特性評価技術) のご紹介」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 二軒谷 亮 氏

・17:00~17:10 Q&A、アンケート