ブルカージャパン X線事業部とナノ表面計測事業部は共催で、6月10日13時30分～14時30分に、高分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナー「高分子のIn-Situ結晶評価ソリューションWEBセミナー~Ｘ線回折と原子間力顕微鏡による高分子薄膜の多角的評価~」を実施する。

　参加は無料（事前申込み制）で、以下から申込みできる。
　https://register.gotowebinar.com/register/7786245874705824016?source=mechanicalte

　内容は以下のとおり。

・プレゼン①「最新のX線回折装置で見るアプリケーション」ブルカージャパン X線事業部 営業部 満岡謙祐氏…同社の最新のX線回折装置を使用した、フィルム・繊維・薄膜へのアプローチを、様々な測定の事例をまじえて紹介する。

・プレゼン②「AFM（原子間力顕微鏡）を用いた高分子薄膜のIn-Situ解析 ～AFMの基礎から応用測定～」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山剛司氏…ブルカーの最新機種であるDimension IconXRを用いて、高分子薄膜解析への様々なアプローチを、測定モード及び測定例をまじえて紹介する。

　フィルム・繊維・薄膜などの高分子系材料の研究・開発に携わる人や、高分子温度変化、局所熱分析、結晶構造分析、高分子の結晶評価に興味のある人、X線回折装置や原子間力顕微鏡の測定手法によってできることや分かることが知りたい人、測定手法について新たな知識を得たい人などに最適。